測(cè)試用例的設(shè)計(jì)，其實(shí)就是方便測(cè)試人員測(cè)試的指導(dǎo)手冊(cè)。經(jīng)過(guò)測(cè)試需求分析階段評(píng)審?fù)ㄟ^(guò)后的測(cè)試項(xiàng)及測(cè)試子項(xiàng)，即是測(cè)試用例設(shè)計(jì)的輸入，在軟件測(cè)試活動(dòng)中，需求規(guī)格說(shuō)明書(shū)是軟件測(cè)試活動(dòng)的基石，所有測(cè)試活動(dòng)以其為基準(zhǔn)。測(cè)試需求來(lái)源于需求規(guī)格，是系統(tǒng)測(cè)試階段、驗(yàn)收測(cè)試階段的依據(jù)，測(cè)試用例及預(yù)測(cè)試用例以測(cè)試需求中測(cè)試項(xiàng)及測(cè)試子項(xiàng)為準(zhǔn)。評(píng)審?fù)ㄟ^(guò)測(cè)試項(xiàng)及測(cè)試子項(xiàng)后，可正式展開(kāi)測(cè)試用例設(shè)計(jì)活動(dòng)。

在單元測(cè)試測(cè)試用例設(shè)計(jì)階段，，常用的用例設(shè)計(jì)法有語(yǔ)句覆蓋、判斷覆蓋、條件覆蓋、判斷條件覆蓋、路徑覆蓋等，通常稱(chēng)為白盒測(cè)試設(shè)計(jì)技術(shù)。系統(tǒng)測(cè)試用例設(shè)計(jì)階段，常用的測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法有等價(jià)類(lèi)、邊界值、判定表、因果圖、正交實(shí)驗(yàn)、狀態(tài)遷移、場(chǎng)景分析等，通常稱(chēng)為黑盒測(cè)試設(shè)計(jì)技術(shù)，下面從測(cè)試用例概格式及設(shè)計(jì)方法方面詳細(xì)剖析這些測(cè)試用例設(shè)計(jì)技術(shù)。

測(cè)試用例概念。開(kāi)展軟件活動(dòng)時(shí)，通常情況下都需要依據(jù)測(cè)試用例進(jìn)行，那么到底什么測(cè)試用例，其作用如何？測(cè)試人員又是如何編寫(xiě)設(shè)計(jì)測(cè)試用例的呢？要解釋上面的問(wèn)題，首先要明白為什么測(cè)試活動(dòng)需要測(cè)試用例，根據(jù)自己的意愿結(jié)合測(cè)試需求是否更快捷？答案肯定是否定的。

在國(guó)外軟件測(cè)試發(fā)展的初期，測(cè)試工作作為一個(gè)輔助性工作，并不像如今這么專(zhuān)業(yè)規(guī)范，很多時(shí)候基本都是測(cè)試工程師的經(jīng)驗(yàn)進(jìn)行，依據(jù)需求規(guī)格說(shuō)明書(shū)開(kāi)展測(cè)試活動(dòng)，這種情況下測(cè)試覆蓋率及正確性基本都是靠測(cè)試工程師個(gè)人職業(yè)素質(zhì)，盲目測(cè)試、漏測(cè)風(fēng)險(xiǎn)大大增加。隨著軟件工程學(xué)科發(fā)展及用戶(hù)對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量需求的不斷增加，在ISO、CMMI等軟件質(zhì)量的標(biāo)準(zhǔn)中要求測(cè)試活動(dòng)實(shí)施時(shí)必須進(jìn)行測(cè)試用例設(shè)計(jì)，以期降低軟件質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)，提高測(cè)試活動(dòng)質(zhì)量。

測(cè)試用例，顧名思義，就是測(cè)試用例的列子，是為某個(gè)特定目標(biāo)開(kāi)發(fā)的輸入、執(zhí)行條件、操作步驟及預(yù)期結(jié)果的集合，在不同的測(cè)試活動(dòng)中，測(cè)試用例的格式不盡相同。進(jìn)行測(cè)試活動(dòng)時(shí)，為了判斷被測(cè)對(duì)象是否滿(mǎn)足用戶(hù)期望，測(cè)試工程師會(huì)事先根據(jù)用戶(hù)需求設(shè)計(jì)測(cè)試用例，即一個(gè)包含測(cè)試目的、測(cè)試輸入、操作步驟、預(yù)期結(jié)果等關(guān)鍵信息的格式文檔，以此作為開(kāi)展測(cè)試執(zhí)行活動(dòng)的一個(gè)重要依據(jù)。測(cè)試過(guò)程中，依據(jù)測(cè)試用例中的操作步驟操作測(cè)試對(duì)象，并根據(jù)測(cè)試輸入測(cè)試數(shù)據(jù)，然后檢查被測(cè)對(duì)象表現(xiàn)出的結(jié)果現(xiàn)象是否與預(yù)期結(jié)果一樣，如果一樣，即測(cè)試通過(guò)，否則測(cè)試失敗不一致的現(xiàn)象被認(rèn)為缺陷。